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赫尔纳供应瑞士PS Prozesstechnik粒子测量

更新时间:2022-08-03

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厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
赫尔纳供应瑞士PS Prozesstechnik粒子测量PS Prozesstechnik粒子测量带有用于悬浮液的流通池 (XPT-C) 的设备变体还可以配备用于熔体测量的可加热测量池。另一种选择是用于在线区分无定形和结晶颗粒的偏振光。

赫尔纳供应瑞士PS Prozesstechnik粒子测量

赫尔纳供应瑞士PS Prozesstechnik粒子测量XPT-C

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PS Prozesstechnik粒子测量主要产品:

1. 粒子测量设备

2. 粒子计悬浮液

3. 稳定性分析仪

PS Prozesstechnik粒子测量产品型号:

XPT-C

XPT-P

XPT CP

XPT

PS Prozesstechnik粒子测量产品特点:

PS Prozesstechnik粒子测量XPT – CP

尺寸 300 x 300 x 120mm 加上振动溜槽附件

重量:8公斤+5公斤

外壳材料:不锈钢,振动通道阳极氧化铝

电源 115/230V

PS Prozesstechnik粒子测量产品应用:

XPT - 通过动态图像分析测量粒度

PS Prozesstechnik粒子测量XPT-C 演示在线测量粉末和悬浮液中的粒度、颗粒形状、数量、粒度分布。功能原理非常简单:就像显微镜每秒拍摄 30 张图像,粒子流流过显微镜,同时软件对所有粒子进行全面评估。整个过程根据 ISO-13322-2 被称为动态图像分析. 使用具有极短曝光时间或超短光脉冲照明的 CCD 相机,即使是快速移动的粒子也能产生清晰的图像。完整的系统包括带有探头 (XPT-P) 或流通池 (XPT-C) 的基本设备、计算机和软件。该软件通过强大的并行化针对快速图像处理进行了优化。

PS Prozesstechnik粒子测量带有用于悬浮液的流通池 (XPT-C) 的设备变体还可以配备用于熔体测量的可加热测量池。另一种选择是用于在线区分无定形和结晶颗粒的偏振光。通过添加带有振动通道的附件并更换测量单元,该设备还可用于粉末测量 (XPT-CP)XPT-CV 系统适用于粉末工艺中的在线使用:采用文丘里系统的样品抽吸系统将样品在闭合回路中从工艺过程中通过测量单元并再次返回。XPT-P 探头可以直接在过程中进行测量(例如管道、锅炉)。

PS Prozesstechnik粒子测量XPT-PR 带振动通道

功能原理:探头浸入产品流中或安装在产品流上方的规定距离处。像场由来自探头的入射光照亮。图像由探头中的 CCD 摄像头记录,立即连续评估,结果在软件中连续显示和记录。

附加模块振动通道:通过将探头安装在附加模块中,可以检查流过的粉末中是否有颜色变化的颗粒(例如白色粉末中的深色颗粒)。

PS Prozesstechnik粒子测量完整的系统由带摄像头的不锈钢探头和氙气闪光灯或高性能 LED 照明、控制单元、PC(笔记本电脑,也封装无风扇)和软件组成。

PS Prozesstechnik粒子测量XPT - CP 粒度仪,带流通池,用于粉末测量

PS Prozesstechnik粒子测量粒度测量粉末

功能原理 XPT-CP:颗粒通过由图像处理软件控制的振动通道输送到溜槽中。它们落入内置 CCD 摄像头的图像平面,记录的图像立即连续评估,结果连续显示并记录在软件中

完整的系统由带摄像头和高性能 LED 照明的不锈钢外壳、流通池、振动通道、控制单元、PC 和软件组成。

 

 


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